Разработка измерительной аппаратуры для контроля оптических характеристик полупроводниковых лазеров // Материалы V всесоюзной конференции «Волоконно-оптические системы передачи». – 1988. – С. 68.
Заполните форму и получите информацию о скидках и наших специальных предложениях
Благодарим за обращение. В ближайшее время с Вами свяжется наш менеджер.
